Chương trình đào tạo phân tích hệ thống đo lường

(SPC Lần 2)

Ngày 1

Thời gian

Nội dung

Kỹ năng yêu cầu

Các công cụ sử dụng

Ghi chú

Sáng

Giới thiệu học viên và giảng viên, chương trình và mục tiêu đào tạo.

Sử dụng Minitab hoặc Excel

 

 

 

Giới thiệu các định nghĩa liên quan (Biến, độ lệch, độ lệch chuẩn, phân bố chuẩn, nguyên nhân đặc biệt, nguyên nhân thông thường)

 

Excel / Minitab

 

 

Kiểm soát quá trình và biểu đồ kiểm soát

 

 

(*)

 

Biểu đồ kiểm soát định lượng và định tính

 

 

 

 

Áp dụng các biểu đồ kiểm soát định lượng

 

 

 

 

Nghỉ trưa

 

 

 

 

Chiều

 

 

 

 

 

Thực hành biểu đồ kiểm soát định lượng

IMR, X-R, X-s

 

 

 

 

Áp dụng các biểu đồ kiểm soát định tính 

 

 

 

 

 

Thực hành biểu đồ kiểm soát np, p, c, u

 

 

 

 

 

 

(*) Không đào tạo đối với khóa học tổ chức tại địa điểm

 

 

Ngày 2

Thời gian

Nội dung

Kỹ năng yêu cầu

Các công cụ sử dụng

Ghi chú

Sáng

Các biểu đồ kiểm soát khác

(Phân bố không chuẩn)

 

 

Excel / Minitab

 

 

 

Năng lực của quá trình (Cp,Cpk,Pp,Ppk) và ý nghĩa thực hiện

 

 

 

 

 

 

Thực hành:

Xác định năng lực của quá trình sản xuất, không sản xuất (dịch vụ)

 

 

 

 

 

Nghỉ trưa

 

 

 

 

Chiều

Thay đổi quá trình và quản lý sự thay đổi

 

 

 

 

 

Thực hành:

Điều chỉnh và sự vượt quá

 

 

 

 

 

 

Các phương pháp lấy mẫu và ảnh hưởng của chúng lên kết quả phân tích

 

 

 

 

 

 

Sổ tay SPC <Ấn bản lần 2 tháng 07 năm 2005>