Chương trình đào tạo phân tích hệ thống đo lường
(SPC Lần 2)
Ngày 1
|
Thời gian
|
Nội dung
|
Kỹ năng yêu cầu
|
Các công cụ sử dụng
|
Ghi chú
|
|
Sáng
|
Giới thiệu học viên và giảng viên, chương trình và mục tiêu đào tạo.
|
Sử dụng Minitab hoặc Excel
|
|
|
|
|
Giới thiệu các định nghĩa liên quan (Biến, độ lệch, độ lệch chuẩn, phân bố chuẩn, nguyên nhân đặc biệt, nguyên nhân thông thường)
|
|
Excel / Minitab
|
|
|
|
Kiểm soát quá trình và biểu đồ kiểm soát
|
|
|
(*)
|
|
|
Biểu đồ kiểm soát định lượng và định tính
|
|
|
|
|
|
Áp dụng các biểu đồ kiểm soát định lượng
|
|
|
|
|
|
Nghỉ trưa
|
|
|
|
|
Chiều
|
|
|
|
|
|
|
Thực hành biểu đồ kiểm soát định lượng
IMR, X-R, X-s
|
|
|
|
|
|
Áp dụng các biểu đồ kiểm soát định tính
|
|
|
|
|
|
Thực hành biểu đồ kiểm soát np, p, c, u
|
|
|
|
(*) Không đào tạo đối với khóa học tổ chức tại địa điểm
Ngày 2
|
Thời gian
|
Nội dung
|
Kỹ năng yêu cầu
|
Các công cụ sử dụng
|
Ghi chú
|
|
Sáng
|
Các biểu đồ kiểm soát khác
(Phân bố không chuẩn)
|
|
Excel / Minitab
|
|
|
|
Năng lực của quá trình (Cp,Cpk,Pp,Ppk) và ý nghĩa thực hiện
|
|
|
|
|
|
Thực hành:
Xác định năng lực của quá trình sản xuất, không sản xuất (dịch vụ)
|
|
|
|
|
|
Nghỉ trưa
|
|
|
|
|
Chiều
|
Thay đổi quá trình và quản lý sự thay đổi
|
|
|
|
|
|
Thực hành:
Điều chỉnh và sự vượt quá
|
|
|
|
|
|
Các phương pháp lấy mẫu và ảnh hưởng của chúng lên kết quả phân tích
|
|
|
|
Sổ tay SPC <Ấn bản lần 2 tháng 07 năm 2005>